ترجمه مقاله انگلیسی: قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ

Parallel algorithm for finding modules of large scale coherent fault trees,قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی,الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم,الگوریتم های موازی,دانلود ترجمه مقاله,دانلود مقاله الگوریتم های موازی

شماره : 62025 دسته بندی محصول : کامپیوتر نام فایل : ترجمه مقاله انگلیسی: قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ

توضیحات فایل

ترجمه مقاله انگلیسی: قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ

ترجمه-مقاله-انگلیسی-قابلیت-اطمینان-میکروالکترونیکی-الگوریتم-های-موازی-برای-پیدا-کردن-نمونه-های-بزرگ

عنوان انگلیسی :
Parallel algorithm for finding modules of large-scale coherent fault trees
سال چاپ : 2015
تعداد صفحه : 4
دانلود رایگان اصل مقاله انگلیسی 
عنوان فارسی : 
قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم

چکیده :
 

The computation of the probability of the top event or minimal cut sets of fault trees is known as intractable NP-hard problems.Modularization can be used to reduce the computational cost of basic operations on fault trees efficiently. The idea of the linear time algorithm, as a very efficient and compact modules detecting algorithm, is visiting the nodes one by one with top-down depth-first left-most traversal of the tree. So the efficiency of the linear time algorithm is limited by nodes visiting time successively and serially, especially when confronting large-scale fault trees. Aiming at improving the efficiency of modularizing largescale fault trees, this paper proposes a new parallel method to find all possible modules. Firstly, we transform the fault tree into a directed acyclic graph (DAG) and treat the terminal basic nodes as entries of the algorithm. And then, according to the proposed rules in this paper, we traverse the graph bottom-up from the terminal nodes and mark the internal nodes in a parallel way. Therefore, we can compare all internal nodes and decidewhich nodes aremodules. Eventually, an experiment is carried out to compare the linear and parallel algorithm, and the result shows that the proposed parallel algorithm is efficient on handling large-scale fault trees.

عنوان فارسی : 
قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم
تعداد صفحه : 10 صفحه
چکیده : 
محاسبه احتمال اتفاقات مهم یا حداقل مجموعه برشهای درختان خطا (گسل) به عنوان NP مقاوم و رام نشدنی- مشکلات سخت، شناخته می شود. پیمانه بندی (ماژول سازی) میتواند برای کم شدن هزینه های محاسبات عملیات اولیه درختان خطای کار آمد، استفاده شود. ایده الگوریتم خطی زمانی، به عنوان یک الگوریتم خیلی کارآمد و شناساگر ماژول های فشرده، گره هارا یک به یک از بالا به پایین، اول عمق، بیشترین پیمایش به سمت چپ درخت را، بررسی می کند، بنابراین کارآمدی الگوریتم زمانی خطی به وسیله دیدن گره ها به صورت پی در پی و ردیفی محدود می باشد، مخصوصا زمانی که با یک درخت خطای بزرگ روبه رو هستیم. با هدف بهبود کارآیی پیمانه بندی درختان خطای منسجم بزرگ، این مقاله یک روش موازی را برا پیدا کردن تمامی نمونه های احتمالی (ماژول) ارائه می دهد. در گام نخست، ما درختان خطای منسجم بزرگ را به یک گراف جهت دار غیر مدور تغییر میدهیم (DAG) و با گره های اصلی ترمینال مانند ورودی الگوریتم برخورد می کنیم. و سپس، با توجه به قوانین ارائه شده در این مقاله، ما از گره ترمینال در گراف از پایین به بالا حرکت می کنیم و گره های داخلی در راه های موازی را، علامت می زنیم. بنابراین، ما می توانیم تمام گره های داخلی را باهم مقایسه کنیم و تصمیم بگیریم که کدام یک از گره ها ماژول هستند. در نهایت، پژوهشی برای مقایسه الگوریتم های موازی و خطی انجام شد، و نتایج نشان می دهد که الگریتم موازی برای بررسی و رسیدگی به درختان خطای بزرگ، کارآمد است.

دانلود فایل

 

دانلود فایل

فایل ترجمه مقاله انگلیسی: قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ برای دانلود

برای دریافت ترجمه مقاله انگلیسی: قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ باید روی دکمه دریافت فایل کلیک کنید تا به وبسایت فروشنده محصول برید.

 دریـافت فایـل

جهت ادامه مطلب + دانلود دکمه بالا را لمس کنید

دریافت پشتیباتی

پشتیبانی ترجمه مقاله انگلیسی: قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ 

هر فایل توسط فروشنده آن پشتیبانی میشه کافیه روی دکمه زیر کلیک کنید و از منوی بالا گزینه پشتیبانی رو انتخاب کنید و درخواست خودتون رو ارسال کنید.
توجه داشته باشید که وبسایت ما همکاری در فروش می باشد و باید درخواست خودتون رو از سایت فروشنده مطرح کنید.

دریافت پشتیبانی برای این فایل

 

کلمات کلیدی فایل

کلمات کلیدی : Parallel algorithm for finding modules of large scale coherent fault trees,قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی,الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم,الگوریتم های موازی,دانلود ترجمه مقاله,دانلود مقاله الگوریتم های موازی

دانلود Parallel algorithm for finding modules of large scale coherent fault trees,قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی,الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم,الگوریتم های موازی,دانلود ترجمه مقاله,دانلود مقاله الگوریتم های موازی بصورت رایگان

دیدگاهتان را بنویسید